應(yīng)用范圍：
MCU、Flash、LDO、ADC、DAC、Logic等芯片參數(shù)的CP、FT測試
主要特點：
● 數(shù)字通道內(nèi)建PPMU/頻率測量單元
● Source/Capture向量
● 最高2GB 存儲深度 SCAN向量
● ALPG向量生成測試存儲芯片
設(shè)備參數(shù):
| 最大數(shù)據(jù)速率 | 200Mbps |
| 最大數(shù)字通道 | 512（64*8） |
| 器件電源數(shù)量 | 32（16*2） |
| 器件電源參數(shù) | -10V~+10V/最大8A |
| 參數(shù)測量電壓 | -1.5V~+6.5V/精度10mV |
| 參數(shù)測量電流 | ±2uA/±20uA/±200uA±2mA/±50mA |
機械&電氣規(guī)格：
| 機械規(guī)格 | |
外尺寸(測試頭) | 520(W)*490 (L)*650(H)mm |
凈重(測試頭) | approx.70kg |
毛重(測試頭) | approx.100kg |
| 電氣規(guī)格 | |
能量功耗 | 3000W |
工作電壓 | 200~240VAC 50/60Hz |
